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FCI XLerate系列有源光纜現可提供12通道、150Gb/s傳輸速度
FCI為XLerate系列有源光纜提供CXP連接選項，以提供12通道、150Gb/s傳輸速度，該系列解決方案提供市場上現有的每英寸線性板最高通道密度，從而成為下一代計算設備和開關設備的最合乎邏輯的選擇。
2012-11-12
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逆變器工作原理介紹
逆變器是一種DC to AC的變壓器，它其實與轉化器是一種電壓逆變的過程。轉換器是將市電電網的交流電壓轉變為穩定的12V直流輸出，而逆變器是將Adapter輸出的12V直流電壓轉變為高頻的高壓交流電；兩個部分同樣都采用了目前用得比較多的脈寬調制（PWM）技術。其核心部分都是一個PWM集成控制器，Adapter用的是UC3842，逆變器則采用TL5001芯片。TL5001的工作電壓范圍3.6～40V，其內部設有一個誤差放大器，一個調節器、振蕩器、有死區控制的PWM發生器、低壓保護回路及短路保護回路等
2012-11-12
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iPhone5只有兩根天線，成就最強悍網絡通信
iPhone 5終于支持4G LTE了，這也許是大多數果粉意料之中的一次升級，但是當蘋果宣布這款手機將會在全球范圍內支持多個頻段的LTE時，人們還是不由自主的為之興奮。就像其它任何的無線標準一樣，LTE采用的也是無線電波，也需要天線。你知道iPhone 5身上有幾根天線嗎？
2012-11-11
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電容和電壓的關系
電容-電壓技術（C-V technique）就是通過測量電容與電壓的關系來求得體系的有關性能參量的一種技術。對單邊突變的p+-n結，其勢壘電容C與電壓V之間的關系可表示為：1/C2 = 2( Vbi –V)/(qεNdA2 )，則可通過測量1/C2~V關系曲線的斜率和截距來求得n型一邊的摻雜濃度Nd和結的內建電勢Vbi 。對線性緩變結, 也可以通過測量1/C3~V關系曲線來求得Nd和Vbi 。
2012-11-10
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可檢測FDD和TDD載波聚合功能的測試手機
艾法斯TM500 LTE-A測試手機新增對TDD載波聚合的支持，LTE-Advanced測試手機現可支持所有3GPP Release 10版本中的FDD和TDD載波聚合功能。該技術也可以將不同頻段的容量相結合，最大程度地發揮了較低頻段卓越傳播能力的優勢。
2012-11-09
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Exar發布最小封裝電源管理系統，可縮減外部元件
Exar發布帶有PowerArchitect 5.0的新品-XRP7724，開啟了可編程電源管理的全新時代，在顯著減少外部元件的同時，又將PCB空間最小化。該器件可實現能耗監控、遠程現場可升級性、或動態優化電源系統等應用。
2012-11-09
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光伏發展簡史
光伏(PV or photovoltaic)是太陽能光伏發電系統(photovoltaic power system)的簡稱。是一種利用太陽電池半導體材料的光伏效應，將太陽光輻射能直接轉換為電能的一種新型發電系統，有獨立運行和并網運行兩種方式。。。。
2012-11-09
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臺達能源管理解決方案 2012中國國際工業博覽會盛大展出
臺達集團-全球電源與散熱系統解決方案的領導者，整合旗下高效率可靠的解決方案，于“2012中國國際工業博覽會”盛大展出，展會中展示臺達能源管理領域產品及技術，并為客戶提供客制化的能源管理服務。同時，臺達首度于中國發表“Smarter. Greener. Together. - 共創智能綠生活”的品牌精神，期以高效率可靠的解決方案，具體實踐臺達“環保 節能 愛地球”的經營使命。
2012-11-05
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Thunderbolt應用看漲 極有可能取代USB 3.0
Thunderbolt高速傳輸接口，為采用菊花鏈的拓璞結構，原僅是Apple針對其高速傳輸接口應用的階段性規格升級，但在合作伙伴Intel的積極推展下，Thunderbolt的高速傳輸效益集成，已不再是Apple專屬應用，而是可以提供更具效能優勢的外接設備接口選擇，加上其連接接口為采行Display Port，其用途更添加許多無限想象空間。
2012-11-02
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EMI/EMC的英文全稱是什么？
電磁干擾(EMI) 英文：(Electro Magnetic Interference)是干擾電纜信號并降低信號完好性的電子噪音，EMI通常由電磁輻射發生源如馬達和機器產生的。
2012-11-01
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濾波器的功能是什么？主要由什么元件組成？
濾波器（filter），是一種用來消除干擾雜訊的器件，將輸入或輸出經過過濾而得到純凈的直流電。對特定頻率的頻點或該頻點以外的頻率進行有效濾除的電路，就是濾波器，其功能就是得到一個特定頻率或消除一個特定頻率。
2012-11-01
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VIO的開環測試電路
輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。
2012-10-31
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