【導讀】相信再過不久，GaN FET 將會取代穩壓器和DC-DC電源內的硅功率器件。然而與硅MOSFET相比，開關速度相對要快上許多，且RDS（ON)更低。要想設計帶有GAN器件的電源電路，必須要掌握器件的開關速度。
關于器件性能，我最常被問到的問題就是“它們究竟有多快？”通常我會回答是：它們非常快，但實際上我并不知道具體有多快。為探明真相，我使用33GHz實時示波器和高速傳輸線探頭對其進行了測量。我將探討影響器件速度的設計限制因素及其未來的發展前景。經過這些測量，我相信我們將很快能設計出開關速度達到250MHz的電源。
圖1顯示了用來進行測量的兩個評估板。這兩個評估板都配備了一個柵極穩壓器、一個驅動器、一個脈沖調節器和兩個eGaN開關。右側的電路板是一個完整的DC-DC轉換器，其含有一個Gen4單片半橋（兩者在同一晶圓上開關），并含有一個L-C輸出濾波器。左邊的評估板在半橋配置上采用了單獨的Gen3 eGaN器件，沒有L-C輸出濾波器。在這兩種情況下，外部脈沖發生器通過焊接到測試板脈寬調制（PWM）輸入的BNC連接器來提供PWM信號。在輸入電壓為5V和12V的情況下，我在各評估板上測量了開關上升時間。
儀器和探頭要求
為確保儀器和探頭不會對測量造成重大影響，我們可以假設，能夠用和方根法把探頭、示波器和半橋的上升時間加起來。盡管這種方法并不總是正確，但我們在最初估計中可假設這一關系成立。
測得的半橋上升時間包括示波器的上升時間和探頭的上升時間，為：
半橋的實際上升時間可按照下式確定：
為了將測量誤差限制到某個百分比K，儀器的上升時間可以與實際的上升時間關聯起來：
對K求解，儀器上升時間與實際半橋上升時間的比值為：
因此，對于這兩個例子，如果我們希望測量結果低于5%或10%，則示波器和探頭的上升時間需分別低于FET上升時間的32%或46%。換句話說，儀器的上升時間應分別比FET上升時間快3.1或2.2倍。
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測量開關性能
這里使用的示波器為帶有Teledyne LeCroy PP066傳輸線探頭的Keysight 90000-X系列33 GHz示波器。示波器與探頭通過50 GHz Huber+Suhner Sucoflex-100電纜連接。該設置的上升時間使用20ps快沿脈沖來記錄，結果如圖2顯示。為了確保測量有效，用于進行這些測量的示波器和探頭的上升時間要比上述的最低值快得多，因此可實現“完美測量”。
得到的27.69ps上升時間包括20ps的脈沖上升時間，可使用和方根法減去它來確定示波器、探頭和電纜的上升時間。在減去脈沖沿的情況下，可以完全確定設備上升時間小于27.69ps，因此我們可以用其進行保守估計。
根據此前的計算，并使用儀器上升時間27.69ps的保守估計，我們可以在K%范圍內測量半橋的上升時間。
測量設置能夠以0.5%的精度測量276ps，以0.1%的精度測量619ps。完整的儀器設置如圖3所示。
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測得的性能
圖4顯示了輸出電壓約為1V和負載電流為20.0A時DC-DC轉換器的上升時間。測量是在測試板輸入電壓為5V和12V的情況下進行的。
測得的上升時間如圖5所示。單獨測量半橋時，也是在輸入電壓為5V和12V下進行的。
按照此前的計算，在探頭和示波器的上升時間為27.69ps及測得的最快上升時間為332.68ps的條件下，所有四項測量結果都在0.5%精度范圍內。結果顯示在表1中。
表1，測試結果概述
設計限制
通過這些測量結果，您可以看出這些器件的開關速度極快，但我們仍舊不知道器件的最快速度是多少，也許永遠也不會知道。鑒于我們剛測量過這些速度，怎么會這樣？有一些關鍵的限制因素是我們無法評估的，至少目前還無法評估。其中一個就是電源回路電感和較小的GaN晶體管電容之間的諧振產生的振鈴，這在所有上升時間測量中都顯而易見。
電容值是固定的，而電感至少在一定程度上（如果不是非常明顯）是由于輸入電容器和互連PCB背板的等效串聯電感（ESL）導致的。
驅動器通過PCB走線連接起來，驅動器本身的邊沿速度約為1ns，這比GaN PET開關速度要慢得多。隨著GaN技術朝材料極限發展（仍有幾個數量級），且驅動器性能增強、寄生效應減小和集成度提升成為現實，速度/性能將持續改進。同時，GaN FET輸出電容將繼續減少，從而開關速度將進一步得到提升。
這一切意味著什么
若使開關速度達到硬開關應用開關周期的1%~2%，您可以看到，開關速度可接近50MHz。現在，限制條件是柵極驅動器的寄生元件，其不能在這樣的速度下運行。我認為，使用諧振開關拓撲結構時，DC/DC轉換器的開關速度可達到250MHz以上。盡管材料的本質限制無法和GaN器件的性能匹敵，但硅器件仍將持續得以改善。
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