【導(dǎo)讀】當(dāng)今電子元件的設(shè)計追求高性能,而同時又致力于減少尺寸?功耗和成本?有效而準(zhǔn)確的元件性能描述?設(shè)計?評估和制造過程中的測試,對于元件用戶和生產(chǎn)廠家是至關(guān)重要的?
1?引言
當(dāng)今電子元件的設(shè)計追求高性能,而同時又致力于減少尺寸?功耗和成本?有效而準(zhǔn)確的元件性能描述?設(shè)計?評估和制造過程中的測試,對于元件用戶和生產(chǎn)廠家是至關(guān)重要的?
電感?電容?電阻是電子線路中使用最為廣泛的電子器件,在進(jìn)行電子設(shè)計的基礎(chǔ)上,準(zhǔn)確地測量這些器件的值是極其重要的?LCR測試儀是一種采用交流方式測量電感?電容?電阻?阻抗等無源元件參數(shù)的裝置?用LCR測試儀測量元器件的參數(shù)時,其關(guān)鍵問題是測量誤差?它的誤差來源主要有兩部分,首先是LCR測試儀本身的內(nèi)部誤差,其次是由不正確校準(zhǔn)?測試件的連接方法及不正確選擇測量電路模型引起的?一般連接方法越麻煩越能準(zhǔn)確地測量出元器件的參數(shù)?
2?LCR測試儀校準(zhǔn)
首先對測試儀進(jìn)行開路校準(zhǔn),開路校準(zhǔn)主要是消除測試夾具與被測件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納?其次是進(jìn)行短路校準(zhǔn),通過一短路條(用低阻抗的金屬板)將高?低電極相連?短路校準(zhǔn)主要是消除測試夾具與被測件相串聯(lián)的殘余阻抗的影響?
3?選擇測量電路模型
對于小電容?大電感來說,電抗一般都很大?這意味著并聯(lián)電阻(R?)的影響相對于小數(shù)值串聯(lián)電阻(R,)更加顯著,所以應(yīng)采用并聯(lián)電路模型?相反,對于大電容?小電感則采用串聯(lián)模型?大于10K11左右用并聯(lián),小于10KQ左右用串聯(lián)?如圖1?
圖 1
4?LCR 測試儀與被測件的連接
4.12 端子法
這種連接方法比較簡單,但由于接觸電阻?連接電纜的串聯(lián)阻抗(r)?連接電纜以及端子之間的雜散電容(c?)會引起較大的誤差?如果不是中等級數(shù)量的阻抗,那么測試誤差就會比較大?一般用于精度要求不是很高的測試?連接如圖2?
圖 2
4.23端子法
對測試電纜和被測件進(jìn)行屏蔽,通過抑制雜散電容,減少對高阻抗測試的測量誤差?一般用于小電容的測量?為了將測試引線的雜散電容減至最小,測試電纜引線的中心導(dǎo)體應(yīng)維護(hù)盡可能短,測量接頭的屏蔽與電纜中心導(dǎo)體互聯(lián),以降低對地雜散電容的影響?
4.34端子法
設(shè)置獨(dú)立的電壓檢測電纜,以消除由于測試電纜串聯(lián)阻抗所引起的電壓降和接觸電阻的影響,是一種減少低阻抗測試誤差的方法?但需要盡量考慮由于電纜之間的互感(M)所產(chǎn)生的影響,增加外屏蔽?外屏蔽導(dǎo)體起測量信號的返回路徑作用,相同電流既流過中心導(dǎo)體又流過外屏蔽導(dǎo)體(以相反方向)?所以在導(dǎo)體周圍未產(chǎn)生外部磁場(由內(nèi)部電流和外部電流產(chǎn)生的磁場彼此完全抵消)?因此,消除了電纜之間的互感(M)造成的誤差?連接如圖 3?
圖 3
4.46 端子法
對于交流阻抗的測量與直流不同,其特點(diǎn)是不會受到溫差電動勢的影響?但是,由于電流電纜與電壓電纜之間的電磁感應(yīng),測量的頻率越高,要想測量低阻抗就越困難?對于這個問題,可以利用電纜的屏蔽層,使電流去路和歸路相互重疊,以抑制磁通量的產(chǎn)生,由此來減少由于電磁感應(yīng)所引起的殘留阻抗,抵制電磁感應(yīng)的影響?對電流電壓變換部分進(jìn)行控制,由此使試樣端(Lp)的電壓接近于零?即使 Lc 端子對上的電壓也接近于零?連接如圖 4?
圖 4
5?結(jié)束語
隨著科學(xué)應(yīng)用技術(shù)不斷發(fā)展的需要,測量精度要求越來越重要,因此測量方法的好壞對保征產(chǎn)品質(zhì)量和提高企業(yè)經(jīng)濟(jì)效益有著一定的實(shí)際意義?本文中所述校準(zhǔn)?連接等方法已經(jīng)過實(shí)踐證明,用此方法對電子元件進(jìn)行測試誤差小,數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠?
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